專(zhuān)注，專(zhuān)一建立具有全球公信力的中國(guó)檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)
項(xiàng)目介紹
低溫測(cè)試的目的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫的影響
1、使材料發(fā)硬變脆；
2、潤(rùn)滑劑粘度增加，流動(dòng)能力降低，潤(rùn)滑作用減?。?/span>
3、電子元器件性能發(fā)生變化；
4、水冷凝結(jié)冰；
5、密封件失效；
6、材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
應(yīng)用范圍
低溫測(cè)試主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。
方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》
IEC 60068-2-1:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》
GCC認(rèn)證是海灣合作委員會(huì)（Gulf Cooperation Council，簡(jiǎn)稱(chēng)GCC）針對(duì)進(jìn)入其成員國(guó)市場(chǎng)的產(chǎn)品所實(shí)施的一種強(qiáng)制性認(rèn)證制度，旨在確保產(chǎn)品符合區(qū)域統(tǒng)一的技術(shù)規(guī)范和安全標(biāo)準(zhǔn)。主要適用于海灣七國(guó)，即沙特阿拉伯王國(guó)，阿拉伯聯(lián)合酋長(zhǎng)國(guó)，科威特，卡塔爾，也門(mén)共和國(guó)，巴林王國(guó)以及阿曼。
ISED，前身為IC(Industry Canada)，自2016年開(kāi)始正式更名為Innovation,Science and Economic Development Canada（ISED），負(fù)責(zé)電子電器產(chǎn)品進(jìn)入加拿大市場(chǎng)的認(rèn)證事務(wù)。其負(fù)責(zé)產(chǎn)品大致為廣播電視設(shè)備、信息技術(shù)設(shè)備、無(wú)線(xiàn)電設(shè)備、電信設(shè)備、工科醫(yī)設(shè)備等，與美國(guó)FCC相似，ISED認(rèn)證目前針對(duì)無(wú)線(xiàn)產(chǎn)品和非無(wú)線(xiàn)產(chǎn)品的電磁兼容和射頻測(cè)試要求。
CEC認(rèn)證是由美國(guó)加里福尼亞州能源委員會(huì)（California Energy Commission) ）于2005 年 12 月 30日依法實(shí)施的電器能效法規(guī)（Appliance Efficiency Regulation ）。該法規(guī)實(shí)施的目的是為了提高用電產(chǎn)品的效率，節(jié)約能源，減少氣體排放和溫室效應(yīng)。
低溫測(cè)試的目的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
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