項(xiàng)目介紹
單位面積中晶粒的數(shù)量與晶粒的尺寸有關(guān),晶粒的大小對(duì)金屬的拉伸強(qiáng)度、韌性、塑性等機(jī)械性質(zhì)有決定性的影響。檢查材料晶粒尺寸大小,可以評(píng)估材料性能。應(yīng)用范圍包含:鋼、銅合金、鋁合金、鎂合金、鎳合金、鈦合金等。
強(qiáng)度和晶粒大小的關(guān)系
金屬的強(qiáng)度和塑性與晶粒大小的關(guān)系.
強(qiáng)度:存在一個(gè)霍爾佩奇公式,材料強(qiáng)度隨晶粒大小變小而變強(qiáng),溫度升高強(qiáng)度會(huì)大幅減小,可是這個(gè)公式在納米晶粒時(shí)候不適用,納米晶的強(qiáng)度增強(qiáng)的更大;但單晶體強(qiáng)度不遵循上述規(guī)律,單晶體的強(qiáng)度很強(qiáng),并且在高溫時(shí)候仍能保持很強(qiáng)強(qiáng)度。
塑性:在一定體積的晶體內(nèi),晶粒的數(shù)目越多,晶界就越多,晶粒就越細(xì),并且不同位向的晶粒也越多,因而塑性變形的抗力也越大.細(xì)晶粒的多晶體不僅強(qiáng)度高,而且塑性和韌性也較好.因?yàn)榫ЯT郊?xì),在同樣變行條件下,變形量可分散在更多。
參考標(biāo)準(zhǔn)
晶粒度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4335-2013 低碳鋼冷軋薄板鐵素體晶粒度測(cè)定法
GB/T 6394-2002 金屬平均晶粒度測(cè)定法
ASTM E112-13 測(cè)定平均晶粒度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
YS/T 347-2004 銅及銅合金 平均晶粒度測(cè)定方法
試驗(yàn)方法
晶粒度檢驗(yàn)方法有:
(1)滲碳法。將試樣在930℃±10℃保溫6h,使試樣表面獲得1mm以上的滲碳層。滲碳后將試樣爐冷到下臨界溫度以下,在滲碳層中的過共析區(qū)的奧氏體晶界上析出滲碳體網(wǎng),經(jīng)磨制和浸蝕后便顯示出奧氏體晶粒邊界。這種方法適于滲碳鋼。
(2)氧化法。將試樣檢驗(yàn)面拋光,然后將拋光面朝上放入加熱爐中,在860℃±10℃加熱1h,然后淬入水中或鹽水中,經(jīng)磨制和浸蝕后便顯示出由氧化物沿晶界分布的原奧氏體晶粒形貌。這種方法適用于碳含量為0.35%~0.60%的碳鋼和合金鋼。
(3)網(wǎng)狀鐵素體法。將碳含量不大于0.35%的試樣在900℃±10℃、碳含量大于0.35%的試樣在860℃±10℃加熱30min,
然后空冷或水冷,經(jīng)磨制和浸蝕后沿原奧氏體晶界便顯示出鐵素體網(wǎng)。這種方法適用于碳含量為0.25%~0.60%的碳鋼和碳含量為0.25%~0.50%的合金鋼。
(4)直接淬火法。將碳含量不大于0.35%的試樣在900℃±10℃、碳含量大于0.35%的試樣在860℃±10℃加熱60min,然后淬火,得到馬氏體組織,經(jīng)磨制和浸蝕后顯示奧氏體晶界。為了清晰顯示晶界,在腐蝕前可在550℃±10℃回火1h。這種方法適用于直接淬火硬化鋼。
(5)網(wǎng)狀滲碳體法。將試樣在820℃±10℃加熱,保溫30min以上,爐冷到下臨界點(diǎn)溫度以下,使奧氏體晶界上析出滲碳體網(wǎng)。經(jīng)磨制和浸蝕后顯示奧氏體晶粒形貌。這種方法適用于過共析鋼。
(6)網(wǎng)狀珠光體法。采用適當(dāng)尺寸的棒狀試樣,加熱到規(guī)定的淬火溫度,保溫后將試樣的一端在水中淬火,經(jīng)磨制和浸蝕后可以看到細(xì)珠光體網(wǎng)顯示出的奧氏體晶粒形貌。這種方法適用于其他方法不能顯示的過共析鋼。
GCC認(rèn)證是海灣合作委員會(huì)(Gulf Cooperation Council,簡(jiǎn)稱GCC)針對(duì)進(jìn)入其成員國(guó)市場(chǎng)的產(chǎn)品所實(shí)施的一種強(qiáng)制性認(rèn)證制度,旨在確保產(chǎn)品符合區(qū)域統(tǒng)一的技術(shù)規(guī)范和安全標(biāo)準(zhǔn)。主要適用于海灣七國(guó),即沙特阿拉伯王國(guó),阿拉伯聯(lián)合酋長(zhǎng)國(guó),科威特,卡塔爾,也門共和國(guó),巴林王國(guó)以及阿曼。
ISED,前身為IC(Industry Canada),自2016年開始正式更名為Innovation,Science and Economic Development Canada(ISED),負(fù)責(zé)電子電器產(chǎn)品進(jìn)入加拿大市場(chǎng)的認(rèn)證事務(wù)。其負(fù)責(zé)產(chǎn)品大致為廣播電視設(shè)備、信息技術(shù)設(shè)備、無線電設(shè)備、電信設(shè)備、工科醫(yī)設(shè)備等,與美國(guó)FCC相似,ISED認(rèn)證目前針對(duì)無線產(chǎn)品和非無線產(chǎn)品的電磁兼容和射頻測(cè)試要求。
CEC認(rèn)證是由美國(guó)加里福尼亞州能源委員會(huì)(California Energy Commission) )于2005 年 12 月 30日依法實(shí)施的電器能效法規(guī)(Appliance Efficiency Regulation )。該法規(guī)實(shí)施的目的是為了提高用電產(chǎn)品的效率,節(jié)約能源,減少氣體排放和溫室效應(yīng)。
單位面積中晶粒的數(shù)量與晶粒的尺寸有關(guān),晶粒的大小對(duì)金屬的拉伸強(qiáng)度、韌性、塑性等機(jī)械性質(zhì)有決定性的影響。檢查材料晶粒尺寸大小,可以評(píng)估材料性能。應(yīng)用范圍包含:鋼、銅合金、鋁合金、鎂合金、鎳合金、鈦合金等。
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